CS測試深圳CE測試豐富的認(rèn)證經(jīng)驗(yàn)

　　因?yàn)镋FT脈沖不僅成群出現(xiàn)，還具有重復(fù)頻率高、波形上升時(shí)間短暫等特點(diǎn)。

　　因此很有可能因?yàn)槟畴娐返臋C(jī)械開關(guān)，對電感性負(fù)載的切換，而對同一電路的其它電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾，所以交換機(jī)必須做EFT實(shí)驗(yàn)。

　　試驗(yàn)的目的是驗(yàn)證由閃電、接地故障、電源開關(guān)動作、或電路中繼電器等電感性負(fù)載動作，而引起的瞬時(shí)擾動對整個(gè)控制回路中產(chǎn)生干擾時(shí)，交換機(jī)的抗干擾能力。

　　傳統(tǒng)上，幾乎所有EMC測試都在EMC實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行，環(huán)境噪音、溫度和濕度等測試條件要符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。 這些試驗(yàn)通常在電波暗室和屏蔽室中進(jìn)行，試驗(yàn)設(shè)備可以按照需要進(jìn)行配置和操作。

　　為什么說絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？

　　浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個(gè)：電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。

　　對于處在雷電頻繁地區(qū)的項(xiàng)目，雷雨天氣是難熬的時(shí)候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來致命的沖擊，甚至造成性的破壞。

　　浪涌試驗(yàn)的目的便是測試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時(shí)的性能狀況，不同的設(shè)備和測試部位，測試方式與角度不盡相同，

　　靜電放電測試（ESD試驗(yàn)）到底有多重要？

　　ESD 是一種常見的近場危害源，可形成高電壓，強(qiáng)電場，瞬時(shí)大電流，并伴有強(qiáng)電磁輻射，形成靜電放電電磁脈沖，容易造成電子設(shè)備的損壞。

　　試驗(yàn)的目的主要是模擬交換機(jī)在實(shí)際使用過程中，遭遇 ESD靜電放電時(shí)，功能和性能的真實(shí)情況。對于 IEC標(biāo)準(zhǔn)，接觸放電測試是方式，但在實(shí)際的工作環(huán)境，空氣放電也較為常見，因此一般的試驗(yàn)，兩種測試方式都會同時(shí)做。