對于傳統偏振材料的裁切，其需求角度和裁切角度通常會有一定的偏差，有時會達到0.5°、1°甚至更大，導致后續產品的加工中造成品質差異。偏振材料不同軸角度的組合會帶來輸出光強的不一致，客戶直觀體驗出現明顯差異。而吸收軸測量儀目前階段只能針對偏振片進行測量，其他光學膜如補償膜、離型膜就無法進行檢測。
NMV-RL1光學薄膜綜合測量儀通過雙偏振模組機構，實現了一臺設備對偏光片和其他光學薄膜吸收軸角度的綜合測量。該設備配合長距離直線導軌，同時實現了大尺寸片材上多點的全自動檢測，為產品的品質保障提供有力的數據支撐。

檢測對象
偏光片
其他光學薄膜

儀器特點：

減少人為誤差
預先選定測量樣片類型，一臺設備兼容檢測偏光片及其他光學薄膜吸收軸角度

儀器參數：

檢測原理：偏振光光電探測技術
偏光片測量范圍：0-180°；
離型膜測量范圍：0-90°；
補償膜測量范圍：0-90°；
精度/標準偏差： 約±0.05°
單點測試時間：約10s