XRF無(wú)損光譜檢測(cè)儀產(chǎn)品鉛Pb元素測(cè)試氯溴含量光譜分析

能量色散X熒光光譜儀簡(jiǎn)稱XRF測(cè)試儀、RoHS檢測(cè)儀器、RoHS鹵素測(cè)試一體機(jī)，是一種物理的元素分析方法。近年來(lái)RoHS檢測(cè)儀主要作為一種快速無(wú)損易操作的設(shè)備，在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)發(fā)揮了很大的作用。XRF、RoHS檢測(cè)儀具有多種元素同時(shí)分析、分析成本低，不加任何外置條件，易上手等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)。

通過(guò)高壓產(chǎn)生電子流達(dá)到X光管中靶材產(chǎn)生初級(jí)X光，初級(jí)X光經(jīng)過(guò)過(guò)濾和聚集射入到待測(cè)樣品產(chǎn)生次級(jí)X射線，也是通常說(shuō)的X熒光，X熒光被探測(cè)器探測(cè)到后經(jīng)過(guò)放大，數(shù)模轉(zhuǎn)換輸入到計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)然后后通過(guò)計(jì)算，才能得出測(cè)試樣品的結(jié)果。

X射線熒光光譜法是利用樣品對(duì)x射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來(lái)定性或定量測(cè)定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡(jiǎn)單、可分析元素范圍廣、譜線簡(jiǎn)單，光譜干擾少，試樣形態(tài)多樣性及測(cè)定時(shí)的非破壞性等特點(diǎn)。它不僅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可進(jìn)行微量元素的測(cè)定，其檢出限多數(shù)可達(dá)10-6。與分離、富集等手段相結(jié)合，可達(dá)10-8。測(cè)量的元素范圍包括周期表中從S-U的所有元素。多道分析儀，在幾分鐘之內(nèi)可同時(shí)測(cè)定20多種元素的含量。

x射線熒光法不僅可以分析塊狀樣品，還可對(duì)多層鍍膜的各層鍍膜分別進(jìn)行成分和膜厚的分析。

當(dāng)試樣受到x射線，高能粒子束，紫外光等照射時(shí)，由于高能粒子或光子與試樣原子碰撞，將原子內(nèi)層電子逐出形成空穴，使原子處于激發(fā)態(tài)，這種激發(fā)態(tài)離子壽命很短，當(dāng)外層電子向內(nèi)層空穴躍遷時(shí)，多余的能量即以x射線的形式放出，并在教外層產(chǎn)生新的空穴和產(chǎn)生新的x射線發(fā)射，這樣便產(chǎn)生一系列的特征x射線。特征x射線是各種元素固有的，它與元素的原子系數(shù)有關(guān)。所以只要測(cè)出了特征x射線的波長(zhǎng)λ， 可以求出產(chǎn)生該波長(zhǎng)的元素。即可做定性分析。在樣品組成均勻，表面光滑平整，元素間無(wú)相互激發(fā)的條件下，當(dāng)用x射線（一次x射線）做激發(fā)原照射試樣，使試樣中元素產(chǎn)生特征x射線（熒光x射線）時(shí)，若元素和實(shí)驗(yàn)條件一樣，熒光x射線強(qiáng)度與分析元素含量之間存在線性關(guān)系。根據(jù)譜線的強(qiáng)度可以進(jìn)行定量分析。

ROHS檢測(cè)分析儀；

地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析；

金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；

黃金、鉑、銀等貴重金屬和各種首飾的含量檢測(cè)；

主要應(yīng)用于ROHS指令相關(guān)行業(yè)，貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；

電鍍行業(yè)。