軸承零件在制造過程中，應通過鍛造、滾動、沖孔、車削、磨削、熱處理等工序，可能出現各種缺陷。常見缺陷如下：
一、鍛造缺陷
1. 鍛造折疊
由于切料不齊、毛刺、飛邊等原因，容易在表面形成折疊，其特點是折疊較粗大，形狀不規則，易出現在零件表面。
最好使用熒光磁粉進行探傷，使缺陷顯示更清晰、更直觀。鍛造折疊的磁性痕跡通常與表面形成一定角度的線、溝和魚鱗。

顯微鏡下觀察缺陷截面，缺陷尾圓鈍，兩側光滑，氧化現象明顯，缺陷中未發現材料夾雜物等異物分布。

冷酸腐蝕金相試樣后，缺陷部位及其兩側有嚴重的脫碳和氧化；觀察缺陷分層的表面形狀，塑性變形痕跡明顯，無撕裂斷裂形狀。經微硬度檢測和金相觀察，缺陷分層表面有不同程度的滲碳硬化。

2. 鍛造過燒
鍛造加熱溫度過高，保溫時間過長，晶界氧化甚至熔化嚴重。
微觀觀察不僅表面金屬晶體邊界被氧化開裂，而且晶體邊界也開始熔化，嚴重時形成尖角洞。

過熱材料在這種缺陷狀態下鍛造，由重錘鍛造、沖孔和滾動，缺陷會撕裂，形成更大的缺陷。鍛造嚴重過熱的表面形狀，如橙皮，分布有小裂縫和厚氧化皮。

熒光磁粉應用于探傷，使缺陷顯示更加清晰。麻點孔是鍛造過燒缺陷造成的。
在顯微鏡下，可以看出孔分布在表面和次表面，局部呈尖角，大小不同，深不見底，邊緣有小裂紋分布，部分區域出現晶體邊界氧化現象，有孔形狀。此外，在將斷口擊中缺陷孔后，觀察斷口表面，可以看出斷口為石斷口，分布了大量的孔和細裂紋。
次品軸承
二、淬火裂紋
淬火過程中，當淬火溫度過高或冷卻速度過快，內應力大于材料的斷裂強度時，就會出現淬火裂紋。

熒光磁粉探傷應用于提高靈敏度和可靠性。淬火缺陷磁痕一般呈斜線、弧形、樹枝或網狀，起始部分較寬，隨延伸方向逐漸變薄。
基本上沿周長方向分布，尾部尖細。切割裂縫制成金相樣品后，可以看出裂縫很深，基本垂直于外表面，沒有發現材料夾雜物和其他異物分布。打碎裂縫后，觀察斷口為脆性斷口，斷口表面有明顯的回火色。因此，在熱處理過程中也會注意以下問題：
1.選擇合適的加熱溫度
2.合理加熱
3.淬火劑的合理選擇
4.冷卻方法的正確選擇
5.及時回火
次品軸承

三、磨削缺陷
在磨削過程中，由于砂輪進給過大、砂輪軸跳動、切削液供應不足、砂輪磨粒鈍等，軸承零件容易產生磨削裂紋。此外，熱處理過程中淬火溫度過高，導致組織過熱、晶粒粗大、殘余奧氏體量大、網狀和粗顆粒。

磨削缺陷的磁性痕跡一般為網狀、輻射狀、平行線狀或開裂狀。磁性痕跡細而尖，輪廓清晰，數量多，通常垂直于磨削方向，磁性痕跡主要分布在中間部分，沿圓周方向，呈長線或樹枝，局部分叉，磁性痕跡收斂。

取樣裂紋截面金后，觀察裂紋較細，垂直于表面，無材料夾雜、氧化皮等異物分布。

四、原材料缺陷
磨削缺陷的磁性痕跡一般呈網狀、輻射狀、平行線狀或開裂狀。磁性痕跡細而尖，輪廓清晰，數量多，通常垂直于磨削方向。磁性痕跡主要分布在中間部分，沿圓周方向呈長線狀或分支狀，局部分叉，磁性痕跡收斂

埃法智能廠家直銷各種AI外觀缺陷檢測設備，一直以客戶需求為導向，專業定制AI視覺檢測設備方案�？蓹z測產品眾多，主要產品有視覺篩選機、光學篩選機、影像篩選機、玻璃盤篩選機、CCD篩選機、視覺檢測機、光學檢測機、影像檢測機、比例盤檢測機、CCD檢測機、螺絲螺帽篩選機、彈簧篩選機、密封圈篩選機，O型圈篩選機，電感篩選機，五金件篩選機、塑膠件篩選機、緊固件篩選機、磁性材料篩選機、橡膠等篩選機、高速視覺計數機，分度盤篩選機、視覺點數機、銀觸點檢測機和換向器檢測機。外觀檢測設備、光學篩選機、CCD尺寸測量、一鍵測量儀、六面外檢機。同時公司可提供視覺檢測機框架，光學篩選機機架，CCD視覺檢查機機構框架，影像檢查機框架，影像篩選機框架、光學檢查機框架、視覺檢測機機架、光學篩選機機構框架、影像檢查機機架、視覺篩選機控制系統、視覺分選機框架、光學分選機機架、缺陷檢測設備框架、全檢機框架、尺寸視覺檢測設備機架、螺絲螺母分選機框架、自動化檢測設備框架等產品