德國EPK廠家直銷MiniTest7400測厚儀

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    鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用最廣泛的測厚儀器。

    篤摯儀器（上海）有限公司的產品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造業、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著先進制造技術的精益求精。
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德國EPK高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 創新的用戶界面概念結合便捷的數據管理，新產品MiniTest7400成為今天測量系統理想的解決方案。新概念的優勢直觀的菜單控制及與上下文相關的聯機幫助，使用簡易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準及參數設置，無需專業技能，也可在短的時間內完成困難測量任務。
先進的數據管理如PC一樣提供快速創建文件夾和易于設置批組。除了數字顯示讀數，層次清楚的顯示統計值和讀數包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數”Cp”和“Cpk”以及組統計值。錯誤的讀數可以從批組中刪除以防止產生錯誤的統計值。   龐大的數據儲存器為必要的數據管理，可保存高達500批組的250,000個讀數。為滿足高精度測量的要求，7400探頭可達到5點校準（包括零點）。

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預設的校準方法符合工業準則和ISO 19840，SSPC，“瑞典”，“澳大利亞”的測量標準。 此外，延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。 為了方便建立和評估測量值組和各種數據格式的輸出，標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數據如文本、Excel®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點：測量樣品的圖片可以添加到數據報告中。 配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設備。
紅外接口(IrDA®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設備，如外借電源、耳機、腳踏開關或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉換器。模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP®明顯優勢EPK此項探頭內部數字信號處理新技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。高精度，高重現性，對溫度變化不敏感，適應性強，這些都是SIDSP®的主要特點。

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篤摯儀器有限公司代理的德國epk MiniTest7400涂層測厚儀探頭的適應性有色金屬的導電性可能會有所不同。對這些基體使用自動補償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以精確測量多種導電性不同的有色金屬材料，無需特別在基體上校準儀器。所有的SIDSP®探頭充分地適應測量各種幾何形狀的樣品。可以對不規則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。 探頭設計選擇不同的線纜插口類型更加靈活，來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設計，后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。 對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環境中提供終保護，MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。