儀器由德國生產，集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：
* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度；
* 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度；
* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度；
* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度；
* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度；
儀器符合國家標準GB/T4956和GB/T4957，可用于生產檢驗、驗收檢驗及質量監督檢驗。


兩用型 儀器特點

* 采用雙功能內置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進行精確測量。
* 符合人體工程學設計的雙顯示屏結構，可以在任何測量位置讀取測量數據。
* 采用手機菜單式功能選擇方式，操作十分簡便。
* 可設定上下限值，測量結果超出或符合上下限數值時，儀器會發出相應的聲音或閃爍*燈提示。
* 穩定性極高，通常不必校正便可長期使用。


兩用型 技術規格

* 量 程： 0～2000μm ,
* 電 源： 兩節5號電池
標準配置


常規型

對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。

覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環，是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用最廣泛的測厚儀器。

采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。

CMI257產品技術參數