Oxford CMI760臺(tái)式銅箔測(cè)厚儀華東經(jīng)銷商

PCB通孔和銅表面測(cè)量表 - CMI760

CMI760 PCB通孔和銅表面測(cè)量表是專為PCB電子制造商設(shè)計(jì)的臺(tái)式涂層厚度計(jì)。

高度通用的CMI760涂層厚度計(jì)專為需要在PCB板上快速，簡(jiǎn)便，準(zhǔn)確和重復(fù)的通孔測(cè)量以及剛性，柔性，單面和雙面或多層銅鍍層測(cè)量的應(yīng)用而設(shè)計(jì) PCB板。

尺寸規(guī)格：
內(nèi)存容量：8000字節(jié)，非易失性
尺寸：11 1/2“（寬）x 10 1/2”（D）x 5 1/2“（H）（29.21×26.67×13.97厘米）
重量：6磅。 （2.79kg）
單位：使用擊鍵自動(dòng)轉(zhuǎn)換英制和公制
單位轉(zhuǎn)換：從mils，μm，μin，mm，in。或％中選擇顯示單位
輸出：并行打印機(jī)端口和RS232串口
顯示屏：大LCD 480（H）x 32（V）像素，背光，廣角視圖
統(tǒng)計(jì)顯示：讀數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)偏差，平均值，高，低
圖表：直方圖，趨勢(shì)，x-Bar和r

SRP-4探頭規(guī)格：
精度：±1％（±0.1μm）參考標(biāo)準(zhǔn)
精度：無(wú)電鍍銅：0.2％標(biāo)準(zhǔn)偏差
典型的電沉積銅：典型值為0.3％標(biāo)準(zhǔn)偏差
分辨率：0.01密耳> 1密耳，0.001密耳<1密耳，0.1μm>10μm，0.01μm<10μm，0.001μm<1μm
厚度范圍：銅：10μin-10密耳（0.25μm-254μm），細(xì)線測(cè)量：跡線寬度8密耳至3000密耳（203μm至76.2mm）

ETP探針規(guī)格：
精度：±0.01密耳（0.25μm）<1密耳（25μm）
精度：典型值為1.2密耳時(shí)為1.0％
分辨率：0.01密耳（0.25μm）
渦流：符合ASTM E376方法
厚度范圍：0.08〜4.0密耳（1〜102μm）
最小孔尺寸：35密耳（899μm）

篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著先進(jìn)制造技術(shù)的精益求精。