描述：

CMI760臺式測量系統具有非常高的多功能性和可擴展 性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內銅 和微孔內銅厚度的測量、以及孔內銅質量測試的多種應用 需求。 CMI760具有先進的統計功能用于測試數據的整理分析。 SRP-4探頭：SRP系列探頭應用先進的微電阻測試技術。測 量時，通過厚度值與電阻值的函數關系準確可靠地得出厚 度值，而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響。 可由用戶自行替換探針的SRP-4探頭為牛津儀器專利產 品。耗損的探針能在現場迅速、簡便地更換，將停機時間 縮至最短。更換探針模塊遠比更換整個探頭經濟。 CMI760的標準配置中包含一個替換用探針模塊。另行訂 購的探針模塊以三個為一組。另外，系繩式的SRP-4探頭 采用結實耐用的連接線和更小的測量覆蓋區令使用更為 方便。

CMI760配置包括： (面銅應用):

CMI760主機

SRP-4探頭 

SRP-4探頭替換用探針模塊(1個） 

NIST認證的校驗用標準片(2個）

可選配件 • • • • (穿孔內銅應用)

ETP探頭 TRP探頭 SRG軟件

主機技術規格：

存儲量：8000 字節，非易失性 

尺寸：11 1/2 英寸(長)× 10 1/2 英寸(寬)× 5 1/2 英寸(高)（29.21× 26.67× 13.97 厘 米） 

重量：6 磅（2.79 千克） 

單位：通過一個按鍵實現英制和公制的自 動轉換 

單位轉換：可選擇mils 、μm、μin、 mm、in或%作為顯示單位 

接口：RS-232 串行接口，波特率可調， 用于下載至打印機或計算機 

顯示：帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示 屏，480(H) × 32(V) 象素 

統計顯示：測量個數，標準差，平均值， 最大值，最小值 

統計報告（需配置串行打印機或PC電腦下 載):存儲位置，測量個數，銅箔類型，線 形銅線寬，測量日期/ 時間，平均值，標 準差，方差百分比，準確度，最高值，最 低值，值域，CPK 值，單個讀數，時間 戳，直方圖

圖表：直方圖，趨勢圖，X-R 圖