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CMI760便攜式銅箔測(cè)厚儀牛津庫(kù)存特價(jià)
CMI760可用于測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。 這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻 和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和孔內(nèi)鍍銅 厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。
篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車(chē)制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專(zhuān)院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線(xiàn)、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動(dòng)著先進(jìn)制造技術(shù)的精益求精。
描述:
CMI760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展 性,對(duì)多種探頭的兼容使其滿(mǎn)足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅 和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用 需求。 CMI760具有先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。 SRP-4探頭:SRP系列探頭應(yīng)用先進(jìn)的微電阻測(cè)試技術(shù)。測(cè) 量時(shí),通過(guò)厚度值與電阻值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠地得出厚 度值,而不受絕緣板層厚度或印刷電路板背面銅層影響。 可由用戶(hù)自行替換探針的SRP-4探頭為牛津儀器專(zhuān)利產(chǎn) 品。耗損的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速、簡(jiǎn)便地更換,將停機(jī)時(shí)間 縮至最短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì)。 CMI760的標(biāo)準(zhǔn)配置中包含一個(gè)替換用探針模塊。另行訂 購(gòu)的探針模塊以三個(gè)為一組。另外,系繩式的SRP-4探頭 采用結(jié)實(shí)耐用的連接線(xiàn)和更小的測(cè)量覆蓋區(qū)令使用更為 方便。
CMI760配置包括: (面銅應(yīng)用):
CMI760主機(jī)
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊(1個(gè))
NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片(2個(gè))
可選配件 • • • • (穿孔內(nèi)銅應(yīng)用)
ETP探頭 TRP探頭 SRG軟件
主機(jī)技術(shù)規(guī)格:
存儲(chǔ)量:8000 字節(jié),非易失性
尺寸:11 1/2 英寸(長(zhǎng))× 10 1/2 英寸(寬)× 5 1/2 英寸(高)(29.21× 26.67× 13.97 厘 米)
重量:6 磅(2.79 千克)
單位:通過(guò)一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)英制和公制的自 動(dòng)轉(zhuǎn)換
單位轉(zhuǎn)換:可選擇mils 、μm、μin、 mm、in或%作為顯示單位
接口:RS-232 串行接口,波特率可調(diào), 用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
顯示:帶背光和寬視角的大LCD液晶顯示 屏,480(H) × 32(V) 象素
統(tǒng)計(jì)顯示:測(cè)量個(gè)數(shù),標(biāo)準(zhǔn)差,平均值, 最大值,最小值
統(tǒng)計(jì)報(bào)告(需配置串行打印機(jī)或PC電腦下 載):存儲(chǔ)位置,測(cè)量個(gè)數(shù),銅箔類(lèi)型,線(xiàn) 形銅線(xiàn)寬,測(cè)量日期/ 時(shí)間,平均值,標(biāo) 準(zhǔn)差,方差百分比,準(zhǔn)確度,最高值,最 低值,值域,CPK 值,單個(gè)讀數(shù),時(shí)間 戳,直方圖
圖表:直方圖,趨勢(shì)圖,X-R 圖