沖擊試樣缺口投影儀金屬夏比沖擊試樣缺口投影儀

隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行夏比V型缺口沖擊試驗方法，  日前國內(nèi)諸如鍋爐壓力容器、冶金和機械等行業(yè)已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗。

對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口尖端要求R0.25±0.025mm），故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會引起試驗結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品或報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。

技術(shù)參數(shù)

1、 放大倍數(shù)：50×；

2、 投影屏直徑：180mm；

3、 工作臺尺寸：方工作臺：110×125mm圓工作臺：90mm  工作臺玻璃直徑：70 mm

4、   工作臺行程：縱向：10 mm；  橫向：10 mm；   升降：12 mm（無刻度）

5、   工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0 — 360°

6、   儀器放大倍率：50×    物鏡放大倍率：2.5×    投影物鏡放大倍率：20×

7、   光源（鹵鎢燈）：12V/100W

8、   電源：220V/50Hz

9、   外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）

10、              重量：約18kg

CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。

目前用光學(xué)投影放大檢查是唯一切實可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。