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　　如果像素是storage on gete的設計，可先用激光將TFT與像素電極的連接切斷，再在儲存電容處，以激光熔接將此像素電極與前一條掃描線連接在一起，所以此像素電極的電壓大部分時間是掃描線關閉TFT的負電壓，因此可在normally white型的TFT LCD面板上寫入電壓，而變成一個暗點缺陷。

　　像素電極若與掃描線短路，則不論write cycle所寫入的電荷為何，在讀出時變成是以掃描線電壓源提供電流送入電荷感測電路。這種缺陷，在normally white型的TFT LCD面板上，由于該像素電極與共電極之間一直相差了一個大的負電壓，因此形成一個暗點缺陷。

　　另外，靜電保護的方式也會影響這個測試方法的可行性，如果是以所述的保護方式將信號線短路，顯示屏模組便無法分辨出電荷來源來判斷缺陷像素的位置。因此，在設計TFT LCD面板像素陣列之外的部分，要同時考慮靜電保護與測試方法。

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