在近期舉辦的“質析毫微?譜繪萬象”半導體痕量成分檢測技術交流會上，分析測試百科網采訪了雪迪龍子公司英國Kore公司總經理Stephen James Mullock和技術專家Douglas Fraser Reich，揭秘了Kore如何以技術創新與定制化開發服務全球高端細分市場，以及其加入雪迪龍后，為中國應用行業和質譜研發注入源源不斷的動力。
1991年成立的Kore Technology，是國際飛行時間質譜儀領域的開拓者之一。Kore的發展歷程始終與技術創新相伴，1993年，團隊因開發便攜式飛行時間質譜儀，獲得英國貿易和工業部（DTI）SMART獎和基金資助，這款質譜儀最終演變成今日的MS-200便攜式質譜儀。1995年，團隊因開發用于固體樣品表面分析的新型臺式二次離子質譜儀被DTI授予SPUR獎。該儀器可用于產品研發、質量控制和故障診斷。基于這項研發成果，Kore最終推出了其SurfaceSeer系列TOF-SIMS二次離子質譜儀。此后，Kore又成功研發了質子轉移反應飛行時間質譜儀（PTR-TOF MS）。在研發過程中，團隊創新性地開發了用于質子轉移反應的射頻離子漏斗，成為該技術領域的先驅。
2015年，北京雪迪龍科技股份有限公司控股收購Kore公司，并成立中國質譜團隊，從事PTR-TOF MS的研發和環境監測應用。近年來雪迪龍開始將Kore高精尖的TOF-MS、TOF-SIMS等技術進一步轉化，為國內材料及半導體行業服務，也為國內的研發機構提供高端質譜儀及核心部件的定制化開發。
依托核心技術，Kore以飛行時間質譜儀為核心，打造了TOF-SIMS、PTR-TOF MS、便攜式質譜儀等一系列產品，還開發了基于電子轟擊電離技術的氣體分析設備。這些產品涵蓋小型、中型、大型等不同規格——從“可以裝在手提箱里的便攜式儀器”到滿足高端實驗需求的大型系統，產品矩陣已覆蓋環境監測、健康安全、材料研發、食品及半導體等多元領域。
SurfaceSeer-I是一款高靈敏度的TOF-SIMS，用于絕緣、導電表面的成像分析與化學成分分析，是表面化學研究、研發與工業質量控制等方面的理想選擇。它配備了25kV液態金屬離子槍（LMIG），實現高空間分辨率的分析。它采用延遲提取技術產生二次離子，配置光學相機，具備表面成像和深度剖析功能，配置二次電子檢測系統SED，具有高度穩定可調的樣品臺（X、Y、Z軸），滿足不同厚度樣品分析需求，其SIMS庫包含上千種材料的質譜數據，可識別未知的化合物和材料。
SurfaceSeer-S是一款結構緊湊且價格合理的TOF-SIMS，用于快速檢測表面化學特性。它是研究樣品表面化學成分的理想選擇，適用于產品研發和工業質量控制等。它采用低能電子槍（5KV Ar+/Cs+離子束），通過脈沖方式工作，實現樣品“無損”分析，可在1~2min內實現高速率的正負質譜分析，適用于導電物體表面和絕緣物體表面的分析，具有高分辨率、易于使用的特點，可選Surface Spectra Static SIMS Library（表面光譜靜態SIMS庫），包含1900多個譜圖和涵蓋1000多種材料數據。
雪迪龍和Kore合作開發了質子轉移飛行時間質譜PTR-TOF 4000和PTR-TOF 4000c，實現在線檢測痕量VOCs。其采用多試劑離子，可分析數百種VOCs，實現無需預處理，直接空氣進樣的實時在線監測。檢出限低至pptv量級，可檢測痕量污染物，具有快速響應能力，在（50~100）ms內快速甄別污染物，并具有高質量分辨率，準確識別化學組分，減少干擾。
MS-200便攜式質譜儀采用手提式（23公斤）、電池供電設計，選擇性雙膜進氣口，最適合VOCs檢測。它可使用常規電子轟擊NIST質譜庫，可檢測到低ppb級別的VOCs，典型響應時間僅需30s。
Kore還為研發型實驗室開發了EI-TOF MS小型臺式飛行時間質譜儀。它使用70eV標準電子轟擊電離源，譜圖結果可匹配NIST庫。它具有緊湊的外形和輕量化設計，便于安裝在多種系統內；膜進樣和毛細管雙進樣系統可適應復雜應用場景。
作為飛行時間質譜儀領域的先行者，Kore憑借持續的技術創新、靈活的定制化服務及高性價比的產品，已在全球市場樹立起了專業的行業形象。雪迪龍和Kore后續有望為中國及全球用戶提供更優質的產品與服務，進而為質譜技術的應用普及與行業發展帶來推動作用。