深圳市鴻怡電子有限公司

QFN240.35老化座芯片測試座ICburninsocket助聽硅麥測試連接器

3225-4PIN晶振老化座3.2*2.5mm翻蓋探針頻率老練座高低溫測試

QFP32-0.8下壓老化座7x7mm本體9x9mm帶引腳尺寸MCU芯片燒錄老化測

QFP48\/LQFP48\/FPQ-48-0.5-06IC測試座燒錄座適配器0.5間距7*7尺寸

DFN10-0.5-3x3翻蓋老化座微小型適于批量高低溫可靠性測試傳感器

QFN124-0.35下壓老化座集成HDMI集成MCU芯片測試?yán)匣煽啃詼y試座

eeprom老化測試座適配SOP8-1.27老化座5.4mm可用于HAST及HTOL測試

定制GDDR5-170ball測試socketGDDR5顯卡焊接測試座功能測試治具

QFN108(12x12)-0.4ICsocket國產(chǎn)替代790-610108-101T老化燒錄調(diào)試

72Pin老化板插槽2.54mm間距溫度可達(dá)200℃鍍金引腳適應(yīng)高溫高濕測

QFN68-0.35非標(biāo)老化座下壓結(jié)構(gòu)IC測試座架構(gòu)單邊16pin與18Pin

QFN32(5x5)-0.5測試座非標(biāo)芯片調(diào)試燒錄老化老練測試PMIC功率器件

定制BGA1521翻蓋探針測試座CPU類BGA芯片功能性燒當(dāng)座帶散熱翅片

QFP80-0.5下壓測試座ARM主控芯片測試燒錄固件拓展調(diào)試

3.175mm間距100腳老化插槽適用于大型老化板轉(zhuǎn)接以及高溫老化測試

QFP64STM32F103RCT6老化座OTQ-64-0.5-01LQFP6清空座\/燒錄座

定制LPDDR4探針測試座BGA200測試治具移動設(shè)備內(nèi)存顆粒燒錄座

DDR3x8一拖八合金內(nèi)存條測試治具內(nèi)存條測試夾具78Ball高壽命

SOP6-2.54老化座MOSFET車規(guī)級AEC-Q100芯片可靠性失效性分析測試

QFN64-0.35ATE測試座老化座老煉座測試精密引腳7x7mm尺寸芯片