Physik Instrumente (PI) 納米定位器 P-616.3C用于壓電系統(tǒng)
PI 的多軸壓電撓性平臺允許在多達 6 個軸上以亞納米精度進行定位和掃描，包括傾斜、傾斜和偏航運動。版本范圍從緊湊的立方體設計到大孔徑和低剖面。
Physik Instrumente (PI)XYZ 掃描儀是定位技術的多面手。應用包括樣品調整、技術、光學計量、光纖定位和光子學，以及原子力顯微鏡。
Physik Instrumente (PI)P-616 NanoCube ®納米定位器
忒點：
用于納米定位和光纖對準的緊湊型平行運動壓電系統(tǒng)
平行運動設計，可在所有空間方向上實現(xiàn)剛度
即使負載高達 100 g，也會因高共振頻率而實現(xiàn)高動態(tài)運動
由于單一安裝平臺，創(chuàng)新的產品設計可靈活使用。
市場上具有 ID 芯片功能的納米定位器
市場上小、輕的 NanoCube®，行程為 100 μm
Physik Instrumente (PI) P-616.3C應用領域：
光纖定位和對準
掃描顯微鏡
2-光子聚合
納米技術和納米制造
光子學/集成光學
顯微操作
樣品定位
PICMA® 壓電執(zhí)行器具有出色的使用壽命
Physik Instrumente (PI) P-616.3C技術數據：
運動 P-616.3C 寬容
活動軸 XYZ
X行程范圍 100微米
Y行程范圍 100微米
Z行程范圍 100微米
X 方向的行程范圍，開環(huán) 110微米 ±20%
Y行程范圍，開環(huán) 110微米 ±20%
Z行程范圍，開環(huán) 110微米 ±20%
X 中的線性誤差 0.03% 類型。
Y 中的線性誤差 0.03% 類型。
Z 中的線性誤差 0.03% 類型。
PI 的多軸壓電撓性平臺允許在多達 6 個軸上以亞納米精度進行定位和掃描，包括傾斜、傾斜和偏航運動。版本范圍從緊湊的立方體設計到大孔徑和低剖面。
Physik Instrumente (PI)XYZ 掃描儀是定位技術的多面手。應用包括樣品調整、技術、光學計量、光纖定位和光子學，以及原子力顯微鏡。
Physik Instrumente (PI)P-616 NanoCube ®納米定位器
忒點：
用于納米定位和光纖對準的緊湊型平行運動壓電系統(tǒng)
平行運動設計，可在所有空間方向上實現(xiàn)剛度
即使負載高達 100 g，也會因高共振頻率而實現(xiàn)高動態(tài)運動
由于單一安裝平臺，創(chuàng)新的產品設計可靈活使用。
市場上具有 ID 芯片功能的納米定位器
市場上小、輕的 NanoCube®，行程為 100 μm
Physik Instrumente (PI) P-616.3C應用領域：
光纖定位和對準
掃描顯微鏡
2-光子聚合
納米技術和納米制造
光子學/集成光學
顯微操作
樣品定位
PICMA® 壓電執(zhí)行器具有出色的使用壽命
Physik Instrumente (PI) P-616.3C技術數據：
運動 P-616.3C 寬容
活動軸 XYZ
X行程范圍 100微米
Y行程范圍 100微米
Z行程范圍 100微米
X 方向的行程范圍，開環(huán) 110微米 ±20%
Y行程范圍，開環(huán) 110微米 ±20%
Z行程范圍，開環(huán) 110微米 ±20%
X 中的線性誤差 0.03% 類型。
Y 中的線性誤差 0.03% 類型。
Z 中的線性誤差 0.03% 類型。
Physik Instrumente (PI) P-616.3C獲得專利的 PICMA® 壓電執(zhí)行器是全陶瓷絕緣的。這可以保護它們免受因漏電流增加而導致的潮濕和故障。Physik Instrumente (PI) P-616.3CPICMA® 執(zhí)行器的使用壽命是傳統(tǒng)聚合物絕緣執(zhí)行器的十倍。Physik Instrumente (PI) P-616.3C證明了 1000 億次循環(huán)而沒有一次故障。
Physik Instrumente (PI) 納米定位器 P-616.3C用于壓電系統(tǒng)
